SD2000系列晶振測(cè)試系統(tǒng)

詳細(xì)說(shuō)明

主要特點(diǎn)

由微機(jī)、射頻開(kāi)關(guān)和高分辨率計(jì)數(shù)器組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

可用于晶振老化測(cè)試和溫度測(cè)試，自動(dòng)完成老化漂移、穩(wěn)定度、準(zhǔn)確度、日波動(dòng)等參數(shù)的測(cè)量

通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)的組合，可組成64-N路測(cè)試矩陣

自動(dòng)記錄儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)，自動(dòng)形成測(cè)試曲線

主要技術(shù)指標(biāo)

頻率范圍：DC～100MHz

隔離度：120dB(5MHz); 90dB (100MHz)